A3-SR-100S系列反射式膜厚仪可用于测量半导体镀膜,手机触摸屏ITO等镀膜厚度,PET柔性涂布的胶厚等厚度,LED镀膜厚度,建筑玻璃镀膜厚度及其他需要测量膜厚的场合。配手持式探头,A3-SR-100S可以用来一键式测量车灯罩表面硬化膜(包括过渡层)和背面的防雾层,精度达到0.02um, 只需1秒钟,还可以测量内饰件,外饰件的铝阳极氧化层和漆层的厚度,精度达到0.02um
AvaSun-XL日晒校准仪主要是对日晒气候色牢度试验仪辐射强度进行校准测量,由于各日晒仪厂家内部氙灯辐照度能量相比匹配太阳的能量差异各不相同,对织物或染料耐光(耐气候)色牢度评级带来较大影响,因此对日晒仪内部氙灯辐照度强度校准测量变得非常有必要。
LVmicroZ是显微分光系统,使用Lambda Vision制造分光专用显微镜,采用小孔直良手法测量彩色滤光片的微小面积的穿透率、反射率、辨色。分光器内建光源,可以直接观察量测点位置,也可以做反射光下的NIR颜料膜厚测量。
VMS-10S型透过率测试仪(分光光度仪)-0.3mm 2.5D玻璃面板透过率测试仪,专业测试手机面板及平板电脑面板上的IR孔透过率,PDA检测器测速快(1s)、体积小、高信噪比以及优异的波长重复性使其方便快捷十分适合面板生产厂商的使用。
VMS-1S型透过率测试仪(分光光度仪)-1.0mm 2.5D玻璃面板透过率测试仪,专业测试手机面板及平板电脑面板上的IR孔透过率,PDA检测器测速快(1s)、体积小、高信噪比以及优异的波长重复性使其方便快捷十分适合面板生产厂商的使用。目前该型号停产,替代型号VMS-8S型。
AvaSun-XL wifi 无线日晒校准光谱仪是荷兰Avantes公司专门针对日晒仪内部的连续型或脉冲型氙灯进行辐射校准测量,测量方式按照国家标准JJF(纺) 051-2012执行,同时可以选择多个国家标准和国际标准进行辐射校准测量,可以实现高精度、高稳定性辐射光谱强度测量,采用了 非线性校准技术,保证响应一致性接近100%.
本闪点测试仪主要包括:图像采集模块 、自动对焦模块显示照明模块及软件分析模块, 可对屏幕或者光学膜的闪点性能进行测量。设备采用傅里叶变换对图像进行频率域内滤波处理,并通过逆傅里叶变换分离出闪点信息。 应用范围: 掩模版:采用背光和掩模版测量; 显示屏:采用显示屏直接测量,应用于防眩光膜、玻璃或者屏幕的闪点性能评估测试
专为玻璃行业推出透过率测试附件,水平或者垂直载物台方便用户操作测试,数秒即出全光谱数据,广泛应用于产品全检。提供快速、可靠和紧凑的性能,3秒钟即出全光谱数据,使其成为在最小空间内进行质量控制和保证测量的理想选择。 光电二极管整列(pda)检测器技术允许几乎同时快速获取全波长范 围(从190 nm到110 nm)的光谱数据。
便携,自带电池可随时随地检测;操做简便,按下测量键即可读数;有三种测量孔径可切换;无需热机;配有调整功能,可与其他厂家的密度计进行对比使用;人性化设计,小巧紧凑,按任意键开机,自动关机。